技术参数

安装重量

配备 »zep« 传感器和台下安装系统的 »mμFocus« 250 kg
配备 »zep-R« 传感器和台下安装系统的 »mμFocus« 270 kg
配备 »zep« 传感器但不带台下安装系统的 »mμFocus« 75 kg

»zep« 刀具刃口几何形状测量传感器

Z轴 300 毫米
AA(指镜头与被测物体之间的最小距离) 条纹投影3
测量原理 0 毫米
最小可测半径 3 微米
数值孔径

»zep-R« 传感器,用于测量3D切削刃几何形状和表面粗糙度

Z轴 300 毫米
AA 20 mm
测量原理 共聚焦显微镜
最小可测半径 3 μm(20倍物镜;50倍物镜:1.4 μm)
数值孔径 0.42 mm

轮廓粗糙度:根据 ISO 4287 和 ISO 13565 标准选择可测量的参数

Ra 整个测量长度的算术平均值
Rq 平方平均值
Rt 粗糙度轮廓的总高度
Rmax 单个测量段内粗糙度轮廓的最大高度
Rz 粗糙度轮廓的平均高度
Rp 粗糙度轮廓中最大峰值的高度
Rv 粗糙度轮廓中最大谷值的深度
Rk 核心粗糙度深度,即核心区域的高度
Rpk 峰值高度的折算值
Rvk 沟槽深度的折算值
Mr1 核心区域上方的材料占比(阿博特曲线)
Mr2 承重材料占比(阿博特曲线)
Rsm 平均沟槽宽度
RPc 峰值计数值

表面粗糙度:根据 ISO 25178-2 和 ISO 16610 标准选择可测量的参数

Sa 尺度限定表面的算术平均高度
Sq 尺度限定表面的均方高度
Sp 尺度限定表面的最大峰值高度
Sv 尺度限定的表面最大凹高
Sz 尺度限定的表面最大高度
S10z 表面的十点高度
Ssk 尺度限定的表面偏斜度
Sku 尺度限制表面的峰度
Sdq 尺度限制表面的均方梯度
Sdr 尺度限制表面的展开过渡面比
FLT 平整度
Sk 芯高
Spk 简化峰高
Svk 简化谷高
Smr1 峰部材料占比
Smr2 谷部材料占比
Vmc 尺度化表面的核心材料体积
Vmp 尺度化表面的峰部材料体积
Vvc 尺度有限表面核心的空隙体积
Vvv 尺度有限表面谷部的空隙体积
Sxp 峰高极值
Str 表面纹理的宽高比