기술 사양

설치 중량

»mμFocus« (»zep« 센서 및 언더테이블 시스템 포함) 250 kg
»mμFocus« (»zep-R« 센서 및 언더테이블 시스템 포함) 270 kg
»mμFocus« (»zep« 센서, 언더테이블 시스템 미포함) 75 kg

»zep« 절삭면 형상 측정용 센서

Z축 300 mm
AA (렌즈와 측정 대상 사이의 최소 거리를 나타냄) 스트라이프 투영 3
측정 원리 0 mm
최소 측정 가능 반경 3 μm
수차

3D 절삭 형상 및 표면 거칠기를 측정하는 »zep-R« 센서

Z축 300 mm
AA 20 mm
측정 원리 공초점 현미경
최소 측정 가능 반경 3 μm (20배 대물렌즈 기준; 50배 대물렌즈 기준: 1.4 μm)
수차수 0.42 mm

프로파일 거칠기: ISO 4287 및 ISO 13565에 따른 측정 가능 매개변수 선정

Ra 전체 측정 길이에 대한 산술 평균값
Rq 제곱 평균값
Rt 거칠기 프로파일의 총 높이
Rmax 단일 측정 구간 내 거칠기 프로파일의 최대 높이
Rz 거칠기 프로파일의 평균 높이
Rp 거칠기 프로파일에서 가장 높은 프로파일 봉우리의 높이
Rv 거칠기 프로파일 내 최대 골 깊이
Rk 핵심 거칠기 깊이, 핵심 영역의 높이
Rpk 감소된 첨두 높이
Rvk 감소된 골 깊이
Mr1 핵심 영역 상단의 재료 비율 (애보트 곡선)
Mr2 하중을 지탱하는 재료 비율 (애보트 곡선)
Rsm 평균 홈 폭
RPc 봉우리 개수

표면 거칠기: ISO 25178-2 및 ISO 16610에 따른 측정 가능 매개변수 선정

Sa 스케일 제한 표면의 평균 산술 높이
Sq 스케일 제한 표면의 평균 제곱 높이
Sp 스케일 제한 표면의 최대 봉우리 높이
Sv 스케일 제한 표면의 최대 골 깊이 높이
Sz 스케일 제한 표면의 최대 높이
S10z 표면의 10점 높이
Ssk 스케일 제한 표면의 왜도
Sku 스케일 제한 표면의 첨도
Sdq 스케일 제한 표면의 평균 제곱 기울기
Sdr 스케일 제한 표면의 전개된 전이 면적 비율
FLT 평탄도
Sk 코어 높이
Spk 감소된 피크 높이
Svk 감소된 골 높이
Smr1 피크의 재료 비율
Smr2 골의 재료 비율
Vmc 스케일 제한 표면의 코어 재료 부피
Vmp 스케일 제한 표면의 봉우리 재료 부피
Vvc 스케일 제한 표면 코어의 빈 부피
Vvv 스케일 제한 표면 골의 빈 부피
Sxp 봉우리 높이의 극값
Str 표면 텍스처의 종횡비