表面粗さ：ISO 25178-2 および ISO 16610 に基づく測定可能なパラメータの選定
| Sa | スケール制限表面の算術平均高さ |
| Sq | スケール制限表面の二乗平均平方根高さ |
| Sp | スケール制限表面の最大山高 |
| Sv | スケール制限表面の最大谷高 |
| Sz | スケール制限表面の最大高さ |
| S10z | 表面の10点高さ |
| Ssk | スケール制限表面の歪度 |
| Sku | スケール制限表面の尖度 |
| Sdq | スケール制限表面の平均二乗勾配 |
| Sdr | スケール制限表面の展開された遷移面積比 |
| FLT | 平坦度 |
| Sk | コア高さ |
| Spk | ピーク高さの低減値 |
| Svk | 谷の高さの低減値 |
| Smr1 | ピークの材料割合 |
| Smr2 | 谷の材料割合 |
| Vmc | スケール制限表面のコア材料体積 |
| Vmp | スケール制限表面のピーク材料体積 |
| Vvc | スケール制限表面のコアの空隙体積 |
| Vvv | スケール制限表面の谷の空隙体積 |
| Sxp | ピーク高さの極値 |
| Str | 表面テクスチャのアスペクト比 |
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