Zoller

Software para aparatos de inspección »pomSoft«

Software de procesamiento de imágenes para aparatos de inspección de la serie »pom«

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pomSoft pomBasic ZOLLER
  • Especializado
    Numerosos algoritmos de medición y evaluación para herramientas
  • Apto para taller
    Para la medición en el tallar directamente al lado de la máquina o en la sala de medición
  • Atractivo
    Superficie gráfica de manejo sencillo
  • Rápido
    Mediciones manuales, sin contacto y sin lupa de elevada velocidad de medición
  • Nítido
    Se garantiza la representación de la forma del filo brillante y nítida gracias al control de iluminación automático, la iluminación de alto contraste y los sistemas de cámara de alta resolución
  • Reproducible
    Resultados repetibles, documentación universal
pomsoft vista general de la frente de la herramienta ZOLLER

Vista general de la frente de la herramienta

pomsoft detección automática de bordes ZOLLER

Identificación automática de bordes

pomsoft alta resolución detalle vistas ZOLLER

Vistas detalladas de alta resolución

pomsoft operación guiada por asistente ZOLLER

Manejo guiado por asistente

pomsoft medición de circunferencia ZOLLER

Medición en el perímetro

pomsoft interfaz de usuario modular ZOLLE

Interfaz de usuario modular

pomsoft visualización superpuesta ZOLLER

Representación superpuesta

pomsoft protocolos de las pruebas con solo pulsar un botón ZOLLER

Protocolos de inspección con el clic del ratón

Comparación de valores nominales/reales

Comparación directa del contorno nominal/real mediante superposición de formas del filo guardadas con la imagen en vivo de la nueva herramienta


Área de la frente y del perímetro

Inspecciones en segundos en el área de la frente y el área del perímetro. También se incluye una identificación automática de los bordes que no depende del usuario


Niveles de zoom grandes

Los sistemas de cámara de alta resolución con niveles de zoom grandes permiten el análisis de los detalles más pequeños de la superficie o la inspección de microgeometrías con precisión de μm

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