Technické údaje

Hmotnosť v zostavenom stave

»mμFocus« so senzorom »zep« a podstolovým systémom 250 kg
»mμFocus« so senzorom »zep-R« a podstolovým systémom 270 kg
»mμFocus« so senzorom »zep« bez podstolového systému 75 kg

Senzor »zep« na meranie geometrie rezných hrán

Os Z 300 mm
AA (označuje najmenšiu vzdialenosť medzi objektívom a meraným objektom) Projekcia prúžku 3
Princíp merania 0 mm
Najmenší merateľný polomer 3 μm
Numerická apertúra

Senzor »zep-R« na meranie 3D geometrie rezných hrán a drsnosti povrchu

Os Z 300 mm
AA 20 mm
Princíp merania Konfokálny mikroskop
Najmenší merateľný polomer 3 μm (hodnoty pre 20-násobný objektív; hodnoty pre 50-násobný objektív: 1,4 μm)
Numerická apertúra 0,42 mm

Drsnosť profilu: Výber merateľných parametrov podľa noriem ISO 4287 a ISO 13565

Ra aritmetický priemer po celej dĺžke merania
Rq kvadratický priemer
Rt celková výška profilu drsnosti
Rmax maximálna výška profilu drsnosti v rámci jedného meracieho úseku
Rz priemerná výška profilu drsnosti
Rp výška najväčšieho vrcholu profilu v profile drsnosti
Rv Hĺbka najväčšej doliny profilu v profile drsnosti
Rk Hĺbka jadra, výška jadrovej oblasti
Rpk Redukovaná výška vrcholu
Rvk Redukovaná hĺbka drážky
Mr1 Podiel materiálu nad jadrovou oblasťou (Abbottova krivka)
Mr2 Podiel materiálu nesúceho zaťaženie (Abbottova krivka)
Rsm priemerná šírka drážky
RPc hodnota počtu vrcholov

Drsnosť povrchu: Výber merateľných parametrov podľa noriem ISO 25178-2 a ISO 16610

Sa stredná aritmetická výška povrchu s obmedzeným rozsahom
Sq stredná kvadratická výška povrchu s obmedzeným rozsahom
Sp maximálna výška vrcholu povrchu s obmedzeným rozsahom
Sv maximálna výška dna povrchu s obmedzeným rozsahom
Sz maximálna výška povrchu s obmedzeným rozsahom
S10z desaťbodová výška povrchu
Ssk šikmosť povrchu s obmedzeným meradlom
Sku kurtóza povrchu s obmedzeným meradlom
Sdq stredný kvadratický gradient povrchu s obmedzeným meradlom
Sdr rozvinutý pomer prechodových plôch povrchu s obmedzeným meradlom
FLT Rovinnosť
Sk Výška jadra
Spk Redukovaná výška vrcholu
Svk Redukovaná výška dna
Smr1 Podiel materiálu vo vrcholoch
Smr2 Podiel materiálu v dnoch
Vmc Objem jadrového materiálu povrchu s obmedzeným meradlom
Vmp Objem materiálu vrcholov povrchu s obmedzeným meradlom
Vvc Prázdny objem jadra povrchu s obmedzeným meradlom
Vvv Prázdny objem dolín povrchu s obmedzeným meradlom
Sxp Extrémna hodnota výšky vrcholov
Str Pomer strán textúry povrchu